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    客服熱線:18680281884

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    CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試,

    操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。

    與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試

    名稱:CBTZ半自動探針臺
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    CBTZ半自動探針臺

    主要技術參數

    可測片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸

    測試硅片單元尺寸:20—200 mil

    定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

    自動對準精度:±0.01mm

    誤測率:≤ 1 ‰

    全自動對位時間:≤ 15 s

    測試速度 45 mil   5.0 pcs/s

    50 mil   4.6 pcs/s

    87 mil   4.2 pcs/s

    步進分辨率:0.001

    Z向行程:0~5mm 可調

    承片臺轉角θ調節范圍:±20o


    CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試,操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。它與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試 。

    CBTZ半自動探針臺.jpg


    操作方式

    CBTZ型自動對位探針臺

    提供了清晰直觀的觸屏操作頁面,

    手觸點擊即可完成對晶片的自動對位測試。

    除此之外還提供了更加簡潔 

    便的小鍵盤操作方式,操作者可依據

    個人偏好和習慣選擇任意種操作 。

    CBTZ半自動探針臺軟件界面.jpg

    機器軟件的操作界面

    CBTZ半自動探針臺小功能鍵盤.jpg

    功能小鍵盤

    機器功能

    具有自動掃描對位功能,對位精度
    高、速速快,Windows7界面,動態map
    圖顯示測試過程。

    具有圓形測試,范圍重測,探邊

    測試,范圍打點,回收測試,矩形
    測試和脫機打點多種測試功能。

    CBTZ半自動探針臺機器功能.jpgCBTZ半自動探針臺測試方法.jpg

    具有X、Y、Z三軸運動結構,操作軟

    件能對垂直度、平面度進行精度補償,保
    證機器的控制精度和工作的穩定性。
    具有實時打點、脫機打點和滯
    后打點功能。新型打點器,使用時
    間長達3天,不滴墨,省去60%的操作時間。
    CBTZ半自動探針臺垂直度參數設置.jpgCBTZ半自動探針臺打點設置.jpg

    具有Z軸行程分段運動功能,其

    分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、

    過沖高度和折回高度,并且具有探邊

    功能,防止測試過程中探針對芯片的
    劃傷和探針與芯片的接觸不良。







    測試針痕比例圖片(反光白點為針痕)

    CBTZ半自動探針臺高度參數設置.jpg

    CBTZ半自動探針臺芯粒數量設置.jpg

    多芯粒                               單芯粒


    應用案例:

    珠海多創科技CBTZ半自動探針臺.png西安鵬泰航空動力技術CBTZ半自動探針臺.png







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